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山崎 大; 武田 全康; 曽山 和彦; 丸山 龍治; 永野 幹典*; 山村 和也*
no journal, ,
J-PARC偏極中性子反射率計について、面内構造解析のための集光デバイス開発を中心に述べる。これは大面積イオンビームスパッタリングによる高性能中性子スーパーミラーに数値制御ローカルウェットエッチング(LWE)による高精度曲面基板を組合せた集光法の開発を行っている。前者により、高い全反射臨界角と反射率,散漫散乱の低減、後者により、高い曲面形状精度,ラフネスの低減,基板サイズの大型化を一気に図る。スーパーミラーによる反射型集光は色収差を持たないため、J-PARCなどの白色ビームにそのまま適用できるのも大きな強みである。これまでの特性試験では、発散角0.12度のビームをほぼミラー反射率に近い効率で0.25mmのサイズに集光することに成功している。本研究ではさらに広い発散角をうける集光デバイスの開発により、高効率の斜入射小角散乱測定の実現を目指す。